滿足IEC61967、IEC62132、SAE J1752等集成電路產(chǎn)品的電磁兼容測(cè)試解決方案，提供電路板級(jí)別的電磁兼容測(cè)試解決方案；支持芯片性能測(cè)試和電磁兼容測(cè)試的復(fù)合解決方案。

• 覆蓋各種瞬態(tài)、電源特性測(cè)試需求，
• 提供數(shù)據(jù)庫(kù)管理軟件，用于產(chǎn)品的數(shù)據(jù)管理和統(tǒng)計(jì)分析，數(shù)據(jù)庫(kù)可以兼容其他主流測(cè)試軟件的數(shù)據(jù)

功能特點(diǎn)

• 自動(dòng)化測(cè)試系統(tǒng)滿足各類芯片、集成電路的電磁兼容測(cè)試要求
• 可以和各種監(jiān)控設(shè)備進(jìn)行連接用于被測(cè)件狀態(tài)的監(jiān)控，實(shí)現(xiàn)全自動(dòng)化的測(cè)試解決方案
• 靈活的系統(tǒng)配置，滿足后期的升級(jí)和擴(kuò)展要求，滿足交流和直流測(cè)試的各類需求

產(chǎn)品優(yōu)勢(shì)

• 靈活的系統(tǒng)配置，滿足各類標(biāo)準(zhǔn)的要求
• 支持各類電子產(chǎn)品的測(cè)試要求，方便后期升級(jí)

應(yīng)用場(chǎng)景

• 芯片和集成電路的發(fā)射測(cè)試
• 芯片和集成電路的抗擾度測(cè)試
• 電路板的發(fā)射和抗擾度測(cè)試